Elio, il nuovo spettrometro che riscopre Ercolano

22 Agosto 2017
Elio

Il ritratto dell’antica donna romana ritrovato 70 anni fa sotto le ceneri del Vesuvio nel sito archeologico di Ercolano, ci viene oggi restituito in tutta la sua bellezza da una nuova tecnica di analisi ai raggi X sviluppata da uno spin-off del Politecnico di Milano. Permette di analizzare i dettagli dell’opera sotto le incrostazioni che l’hanno ricoperta in questi decenni, l’hanno sperimentata gli esperti dell’Istituto Pratt di New York che presentano i risultati dei loro studi al convegno della Società Americana di Chimica (Acs) a Washington: terra verde sulle guance per accennare il colore dell’incarnato, pigmento a base di piombo per creare dei punti luce intorno agli occhi e pigmenti ferrosi per delineare l’ovale gentile del volto.

La coordinatrice del progetto, Eleonora Del Federico, ha dichiarato che la scienza sta permettendo di avvicinarsi sempre più alle persone che vivevano ad Ercolano. “Rivelando i dettagli degli affreschi che sono ormai invisibili ad occhio nudo, stiamo essenzialmente riportando in vita queste persone vissute nell’antichità. E comprendendo meglio i materiali e le tecniche che usavano, riusciremo a preservare meglio la loro maestria per le future generazioni”.

Lo strumento chiave per questa ‘riscoperta’ si chiama Elio, ed è un nuovo spettrometro per l’analisi di fluorescenza ai raggi X sviluppato dai ricercatori della XGLab di Milano. Il dispositivo portatile consente di fare un’analisi dell’opera in loco, in modo del tutto non invasivo, mappando gli elementi chimici presenti nei pigmenti usati per la realizzazione. Queste informazioni saranno molto preziose per i restauratori, che potranno così scegliere al meglio i solventi da usare per ripulire l’affresco e riportarlo all’originario splendore. “Questa giovane donna ormai è scomparsa per sempre – commenta Del Federico – ma il nostro studio rivela dettagliatamente tutta la sua umanità, la sua espressione pensierosa e la sua bellezza”.


Per maggiori informazioni sullo strumento utilizzato
consulta la scheda tecnica o contatta XGLab S.R.L.

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